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用于集成电路仿真和设计的FinFET建模:基于BSIM-CMG标准

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用于集成电路仿真和设计的FinFET建模:基于BSIM-CMG标准

作者:[印]尤盖希·辛格·楚罕,[美]达森·杜安·卢,[印]史利南
出版社:机械工业出版社
ISBN:9787111659815
出版年:202009

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用于集成电路仿真和设计的FinFET建模:基于BSIM-CMG标准 简介
随着集成电路工艺特征尺寸进入28nm以下节点,传统的平面MOSFET结构已不再适用,新型的三维晶体管(FinFET)结构逐渐成为摩尔定律得以延续的重要保证。本书从三维结构的原理、物理效应入手,详细讨论了FinFET紧凑模型(BSIM-CMG)产生的背景、原理、参数以及实现方法;同时讨论了在模拟和射频集成电路设计中所采用的仿真模型。本书避开了繁杂的公式推导,而进行了更为直接的机理分析,力求使得读者从工艺、器件层面理解BSIM-CMG的特点和使用方法。 本书可以作为微电子学与固体电子学、电子信息工程等专业高年级本科生、研究生的专业教材和教师参考用书,也可以作为工程师进行集成电路仿真的FinFET模型手册。

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