《The Kelvin Probe Force Microscopy and Its Related Technology with High Sensitivity and High Resoluti》9787302539537.pdf-马宗敏-清华大学出版社-电子书下载-简阅读书网

下载本书 下载格式： pdf格式 epub格式 接收邮箱(本功能测试中)： 分享给好友: The Kelvin Probe Force Microscopy and Its Related Technology with High Sensitivity and High Resoluti; 作者：马宗敏; 出版社：清华大学出版社; ISBN：9787302539537; 出版年：2019/12/1

The Kelvin Probe Force Microscopy and Its Related Technology with High Sensitivity and High Resoluti 简介

本专著主要面向高分辨的扫描探针显微技术，重点是原子力显微镜、开尔文探针力显微镜（KPFM）关键技术及典型应用领域，解决KPFM在测量过程中的耦合，提高系统的检测灵敏度，实现材料原子级高精度与高可靠性测量，为扫描探针技术在精密测量物理领域的基本常数高精度测量提供更为精准的工具和方法。

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